X射线荧光光谱仪(日本)

该仪器为日本理学公司生产的ZSXPrimus Ⅱ号X射线荧光光谱仪，该仪器分析不仅已广泛应用于地质、冶金、矿山、电子机械、石油、化工、航空航天材料、农业、生态环境、建筑材料、商检等各个领域的物质材料的化学成分分析。X射线荧光光谱仪分析元素范围广。一般现代波长色散X射线荧光光谱仪均能测定元素周期表中从铍到铀的80多种元素。 该仪器测定元素的含量范围宽，可以从10-6级到100%，若经过预富集的特殊处理，甚至可以测到 10-8级的含量。全反射X射线荧光分析的检测下限可达10-11～10-15g(或109个原子/cm²)。