X射线荧光光谱仪(日本)

发布时间:2014-11-25  本信息已被浏览:814

 

该仪器为日本理学公司生产的ZSXPrimus Ⅱ号X射线荧光光谱仪,该仪器分析不仅已广泛应用于地质、冶金、矿山、电子机械、石油、化工、航空航天材料、农业、生态环境、建筑材料、商检等各个领域的物质材料的化学成分分析。X射线荧光光谱仪分析元素范围广。一般现代波长色散X射线荧光光谱仪均能测定元素周期表中从铍到铀的80多种元素。 该仪器测定元素的含量范围宽,可以从10-6级到100%,若经过预富集的特殊处理,甚至可以测到 10-8级的含量。全反射X射线荧光分析的检测下限可达10-1110-15g(109个原子/cm2)


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